反射光譜薄膜測厚儀可以實現產品的厚度檢測，實現了高精度檢測服務。我們使用超聲波測厚儀可以幫助我們更好的實現高精度檢測，同時降低對設備的破壞。我們可以利用這款設備實現高效的檢測，通過該設備我們會還可以實現非接觸檢測，幫助設備實現高效的檢測服務。

• 
  MProbe系列薄膜測厚儀

  當一束光入射到薄膜表面時，薄膜上表面和下表面的反射光會發生干涉，干涉的發生與薄膜厚度及光學常數等有關，反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。 反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、精確且快速...

  查看更多
• 
  MProbe Vis薄膜測厚儀

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被MProbe Vis測厚儀測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金...

  查看更多
• 
  MProbe UVVisSR薄膜測厚儀

  該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚...

  查看更多
• 
  MProbe RT薄膜測厚儀

  該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚...

  查看更多
• 
  MProbe NIR薄膜測厚儀

  采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。 測量范圍: 100 nm -200um 波長范圍: 900 nm -2500 nm 適用于...

  查看更多

12 下一頁