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              反射光譜薄膜測厚儀

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              MProbe NIR薄膜測厚儀


              參考價格:15-20萬

              采用近紅外光譜(NIR)的薄膜測厚儀,可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域,比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。

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              采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域,比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。

              測量范圍: 100 nm -200um

              波長范圍: 900 nm -2500 nm

              適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

              測量指標:薄膜厚度,光學常數

              界面友好強大: 一鍵式測量和分析。

              實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態測量和產線批量處理。


               MProbe NIR薄膜測厚儀

                                   (MProble NIR薄膜測厚儀系統示)


              系統性能參數:

                         精度 <0.01nm or 0.01%
                         準確度 <0.2% or 1 nm
                         穩定性 <0.02nm or 0.03%
                        光斑直徑 標準3mm, 可以小至3um
                        樣品大小 大于1 mm


              MProbe NIR薄膜測厚儀



              技術參數:


              測量范圍 100nm-200um
              精度 <0.01nm or 0.01%
              準確度 <0.2% or 1 nm
              穩定性 <0.02nm or 0.03%
              波長范圍 NIR: 900-1700
              NIRX: 900-2200
              NIRX2:1550-2500nm
              光譜儀和檢測器 F4光譜儀,256/512/1024像素InGaAs PDA檢測器,16位深,TE制冷,高靈敏度,高動態范圍,信噪比:大于6000
              光譜分辨率 小于4nm(512像素)
              光源 5W鹵鎢燈,色溫2800,壽命:10000小時
              反射探頭 光導光纖(7個纖芯),纖芯400um

              可選硬件模塊:
              FLNIR 石英聚焦透鏡,工作距離:35mm,光斑直徑:小于0.5mm
              FDHolder 面向下面樣品適配器,用于透明樣品
              TO 透射率測量模塊
              TO Switch 2個通道轉換器,用于反射率和透射率測量
              20W 20W鹵鎢燈(色溫3100,壽命2000小時)
              TR 5V TTL外觸發模塊,1個外部in觸發,啟動測量,6路out觸發

              可選軟件模塊:
              MOD 遠程控制(TCP),基于Modbus協議
              KM 動態測量模塊,設定時間間隔,用于在線測量

               MProbe NIR薄膜測厚儀

              訂購信息:

              MProbe NIR-AA-BBBB

              AA:光譜范圍(OO:900-1700nm;OX:900-2200nm;X2:1550-2200nm)

              BBBB:InGaAs PDA像素數量(256,512或1024)

              例如:MProbe NIR-OO-512,代表900-1700nm光譜,512像素檢測器


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